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Titlebook: Reliability of Electronic Components; A Practical Guide to Titu I. B?jenescu,Marius I. Bazu Book 1999 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 199

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樓主: aggression
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發(fā)表于 2025-3-26 21:53:50 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 04:32:11 | 只看該作者
Titu I. B?jenescu M.Sc.,Marius I. Bazuolitik, in den Medien und Religionen. Die Geschichte der Erziehung zeigt jedoch, dass Erziehung Misserfolge und Fehlentwicklungen produzieren kann: statt Selbstbestimmung erzeugt sie Gehorsam, statt Mündigkeit Unterdrü-ckung, statt Zuwendung und Empathie k?rperliche und seelische Gewaltt?tigkeiten,
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發(fā)表于 2025-3-27 05:35:01 | 只看該作者
Titu I. B?jenescu M.Sc.,Marius I. B?zuzeipr?sidiums ist die Zahl der gewerbsm??igen Kurpfuscher Berlins vom Jahre 1879–1903 um 3518% gestiegen, indes die Einwohnerzahl in der gleichen Zeit um 120% zunahm; im Jahre 1878 gab es 28, im Jahre 1903 aber 1013 Kurpfuscher. Eine Z?hlung in Preu?en im Jahre 1897 ergab 2404 Kurpfuscher; im Jahre
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發(fā)表于 2025-3-27 11:16:17 | 只看該作者
Titu I. B?jenescu M.Sc.,Marius I. Bazueriellen Mitteln versehen. Mit diesen wiederum schuf man sich neuen Einflu? auf die Presse, auf abh?ngige Kreise, man schuf vor allem auch eine ausgedehnte Organisation, die früher für das ?ehrlose“ Gewerbe unm?glich gewesen w?re. Die Organisation wirkte dann wiederum machtsteigernd, und ihre auf Ma
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發(fā)表于 2025-3-27 14:26:41 | 只看該作者
t. Auch bei der Untersuchung der dielektrischen Funktionen freier Ladungstr?ger in einem polarisierbaren Wirtsgitter haben wir eine frequenzunabh?ngige Untergrundpolarisation ε. angenommen. Das bedeutet, da? wir uns in Frequenzbereichen aufhielten, die genügend unter- oder oberhalb der Resonanzfrequ
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發(fā)表于 2025-3-27 18:34:27 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 22:17:32 | 只看該作者
Reliability of silicon power transistors,The explosive development of the semiconductor technology imposes greater demands on the quality and reliability of the components. The problem of the failure rate during the life of a device or system is more and more important and the failure analysis helps to the improvement of the product quality.
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發(fā)表于 2025-3-28 02:30:30 | 只看該作者
Noise and reliability,Much work has been carried out in the past to study the various types of (low-frequency excess) noise sources as they commonly occur in silicon planar transistors used in monolithic integrated circuits. Some examples of such noise sources are presented in the following.
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發(fā)表于 2025-3-28 07:14:36 | 只看該作者
Titu I. B?jenescu,Marius I. BazuApplication-oriented professional book.It provides engineers and students with enough background to design and analyse reliaility procedures.It also covers all the manufacturing aspects of electronic
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發(fā)表于 2025-3-28 13:23:15 | 只看該作者
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