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SCIE期刊IEEE Design & Test 2024/2025影響因子:1.909 (IEEE DES TEST) (2168-2356). (ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)(工程,電氣和

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樓主: 貪污
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發(fā)表于 2025-3-25 06:19:02 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-25 15:13:43 | 只看該作者
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Submitted on: 06 February 2024. Revised on: 01 March 2024. Accepted on: 02 April 2024. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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Submitted on: 06 September 2005. Revised on: 01 November 2005. Accepted on: 23 December 2005. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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發(fā)表于 2025-3-26 16:53:31 | 只看該作者
Submitted on: 24 February 2016. Revised on: 24 April 2016. Accepted on: 02 June 2016. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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