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SCIE期刊IEEE Design & Test 2024/2025影響因子:1.909 (IEEE DES TEST) (2168-2356). (ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)(工程,電氣和

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樓主: 貪污
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發(fā)表于 2025-3-26 21:22:42 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 07:27:42 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 12:36:11 | 只看該作者
Submitted on: 23 July 2022. Revised on: 24 October 2022. Accepted on: 21 November 2022. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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發(fā)表于 2025-3-27 13:52:54 | 只看該作者
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