Titlebook: Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems; Modeling, Analysis a Sheldon Tan,Mehdi Tahoori,Saman Kiamehr Book 2019 Springer Nature Swi

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Sheldon Tan,Mehdi Tahoori,Taeyoung Kim,Shengcheng Wang,Zeyu Sun,Saman Kiamehret al., 1997; Rasche, 1994; Freiling, 2001) sind für den Wettbewerbserfolg weniger die Qualit?t und die Anzahl der Ressourcen, sondern vielmehr die Kompetenzen zur Nutzung der Ressourcen und deren Zuführung zum Markt entscheidend. Zu diesen ?konomischen Rahmenbedingungen gesellen sich zus?tzliche He

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and the EM recovery effects. Also includes new, parameterized equivalent DC current based EM models to address the recovery and transient effects;.Presents a cross-layer approach to transistor aging modeling, 978-3-030-26174-0978-3-030-26172-6

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