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Titlebook: Einführung in die Halbleitertechnologie; Waldemar Münch Textbook 1993 B. G. Teubner Stuttgart 1993 Entwicklung.Fortschritt.Handel.Industri

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樓主: ACRO
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發(fā)表于 2025-3-25 05:38:22 | 只看該作者
http://image.papertrans.cn/e/image/304244.jpg
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發(fā)表于 2025-3-25 07:37:10 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-25 14:19:07 | 只看該作者
Approaches of the Concept of Style,rscheidet Homoepitaxie und Heteroepitaxie. Im ersteren Falle sind die Werkstoffe der Epitaxieschicht und des Substrates — von der Dotierung abgesehen — identisch; im zweiten Falle besteht die Epitaxieschicht aus einem Material, das von demjenigen des Substrates verschieden ist.
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發(fā)表于 2025-3-25 16:10:11 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-25 22:30:31 | 只看該作者
Introduction to Learning from Data,en. In den folgenden Abschnitten soll die Fertigung der wichtigsten Halbleiterbauelemente erl?utert werden. Eine Vollst?ndigkeit hinsichtlich der Bauelemente und der technologischen Verfahren kann dabei nicht angestrebt werden.
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發(fā)表于 2025-3-26 02:22:48 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-26 05:27:19 | 只看該作者
Approaches of the Concept of Style,rscheidet Homoepitaxie und Heteroepitaxie. Im ersteren Falle sind die Werkstoffe der Epitaxieschicht und des Substrates — von der Dotierung abgesehen — identisch; im zweiten Falle besteht die Epitaxieschicht aus einem Material, das von demjenigen des Substrates verschieden ist.
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發(fā)表于 2025-3-26 10:36:24 | 只看該作者
Awareness of the History of Art,e homogene Dotierung angestrebt wird, erfordern die Funktionsprinzipien der meisten Halbleiterbauelemente eine inhomogene Dotierung, vorwiegend in der Form von pn-überg?ngen. Dementsprechend werden in den nachfolgenden Abschnitten haupts?chlich Verfahren behandelt, die eine inhomogene Verteilung der
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發(fā)表于 2025-3-26 13:36:02 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-26 17:58:31 | 只看該作者
Benyamin Ghojogh,Mark Crowley,Ali Ghodsiellung der Einzelkomponenten erfolgt mittels der in Kapitel 8 geschilderten Methoden. In vielen F?llen — insbesondere bei Schaltungen auf der Basis von Bipolartransistoren — sind zus?tzliche Proze?schritte erforderlich, welche die elektrische Isolation der Bauelemente innerhalb des Halbleiterchips s
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