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SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY 2024/2025影響因子:1.672 (MICROELECTRON RELIAB) (0026-2714). (ENGINEERING, ELECTRICAL & E

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Submitted on: 12 January 1998. Revised on: 03 February 1998. Accepted on: 02 March 1998. MICROELECTRONICS RELIABILITY---PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
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Submitted on: 27 June 2012. Revised on: 07 July 2012. Accepted on: 21 July 2012. MICROELECTRONICS RELIABILITY
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