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SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY 2024/2025影響因子:1.672 (MICROELECTRON RELIAB) (0026-2714). (ENGINEERING, ELECTRICAL & E

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發(fā)表于 2025-3-21 16:34:18 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
期刊全稱MICROELECTRONICS RELIABILITY
期刊簡稱MICROELECTRON RELIAB
影響因子20241.672
視頻videohttp://file.papertrans.cn/22/21934/21934.mp4
ISSN0026-2714
eISSN1872-941X
出版商PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
發(fā)行地址THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
學(xué)科分類1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Engineering, Electrical & Electronic | Nanoscience & Nanotechnology | Physics, Applied; 2.Current Contents Electronics & Telecommunications Collection--Electronics & Electrical Engineering; 3.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Electrical & Electronics Engineering; 4.Essential Science Indicators--Engineering;
出版語言English
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SCIE(SCI)期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY(20 21 REV HIST)影響因子


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SCIE(SCI)期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY(20 21 REV HIST)五年累積影響因子


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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 21:54:57 | 只看該作者
Submitted on: 11 September 2017. Revised on: 22 October 2017. Accepted on: 18 November 2017. MICROELECTRONICS RELIABILITY
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 03:44:46 | 只看該作者
Submitted on: 24 March 1999. Revised on: 16 April 1999. Accepted on: 24 April 1999. MICROELECTRONICS RELIABILITY---PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
地板
發(fā)表于 2025-3-22 05:55:57 | 只看該作者
Submitted on: 25 July 2010. Revised on: 27 August 2010. Accepted on: 07 September 2010. MICROELECTRONICS RELIABILITY
5#
發(fā)表于 2025-3-22 09:33:40 | 只看該作者
Submitted on: 07 August 2005. Revised on: 09 September 2005. Accepted on: 03 October 2005. MICROELECTRONICS RELIABILITY
6#
發(fā)表于 2025-3-22 13:54:55 | 只看該作者
Submitted on: 11 March 2006. Revised on: 23 April 2006. Accepted on: 11 May 2006. MICROELECTRONICS RELIABILITY---PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:02:17 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-22 23:37:25 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 05:10:43 | 只看該作者
Submitted on: 18 September 2016. Revised on: 21 October 2016. Accepted on: 29 October 2016. MICROELECTRONICS RELIABILITY
10#
發(fā)表于 2025-3-23 06:45:09 | 只看該作者
Submitted on: 27 August 1999. Revised on: 09 October 1999. Accepted on: 03 November 1999. MICROELECTRONICS RELIABILITY
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