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SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING 2024/2025影響因子:1.177 (J ELECTRON IMAGING) (1017-9909). (ENGINEERING, ELECTRICAL & EL

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樓主: DEIGN
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發(fā)表于 2025-3-23 11:43:16 | 只看該作者
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Submitted on: 26 November 2010. Revised on: 05 January 2011. Accepted on: 20 February 2011. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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Submitted on: 09 September 2004. Revised on: 21 November 2004. Accepted on: 28 December 2004. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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Submitted on: 03 March 2021. Revised on: 08 May 2021. Accepted on: 28 June 2021. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-24 10:10:39 | 只看該作者
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Submitted on: 14 December 2003. Revised on: 08 March 2004. Accepted on: 20 March 2004. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-24 20:03:42 | 只看該作者
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