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Titlebook: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie; Eine Einführung für Jürgen Thomas,Thomas Gemming Textbook 20131st edition Springer-Verlag

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發(fā)表于 2025-3-23 11:20:38 | 只看該作者
https://doi.org/10.1057/978-1-137-58603-2en. Der wei?e Stift liefert keinen Kontrast. Auch im Elektronenmikroskop ben?tigen wir nicht nur ein hohes Aufl?sungsverm?gen sondern auch einen Bildkontrast. Dieser ist das Ergebnis der Wechselwirkung zwischen den Strahlelektronen (Prim?relektronen) und der durchstrahlten Probe. Anders als in der L
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發(fā)表于 2025-3-23 14:49:46 | 只看該作者
The Diversity and Contact Project (DivCon),iegen. Die Atomabst?nde in den Kristallgittern sind in dieser Gr??enordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzfl?chen auf atomarer Skale geh?rt dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergr??erten und hochaufgel?sten Abbildung amorpher Materialien auftr
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發(fā)表于 2025-3-23 21:32:05 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-24 01:33:06 | 只看該作者
Martin Bak J?rgensen,Trine Lund ThomsenElektronen im Festk?rper, d. h. die Wechselwirkung ohne Energieverlust, ausgenutzt. Inelastische Streuprozesse, d. h. solche, bei denen die Strahlelektronen Energie verlieren, waren unerwünscht. Sie führen zu ?nderungen der Elektronenwellenl?nge und damit zu Aufl?sungsverlust durch chromatische Aber
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發(fā)表于 2025-3-24 03:38:34 | 只看該作者
John Erik Fossum,Riva Kastoryano,Birte Siimtationssymmetrische magnetische Felder für Elektronen tats?chlich Linseneigenschaften? Wie kommt man auf die Formeln für die Berechnung von Beugungsreflexabst?nden und Winkeln zwischen Beugungsreflexen, wenn es sich nicht um ein kubisches Gitter handelt? Wir wollen versuchen, diese und ?hnliche Frag
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發(fā)表于 2025-3-24 07:38:01 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-24 13:37:20 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-24 18:23:53 | 只看該作者
,Wir pr?parieren elektronentransparente Proben,ation neuartiger Ergebnisse; auch über Sinn und Zweck des Ganzen wird diskutiert. Bei Neueinrichtung eines elektronenmikroskopischen Labors ist aber unbedingt zu beachten, dass für die Transmissionselektronenmikroskopie geeignete dünne Proben ben?tigt werden und die Pr?paration solcher Proben alles
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發(fā)表于 2025-3-24 20:38:49 | 只看該作者
Wir beginnen mit der praktischen Arbeit,ereitet werden müssen und sitzen nun gedanklich vor einem Transmissionselektronenmikroskop. Zeit, sich mit seinem ?u?eren vertraut zu machen. Natürlich sieht jeder Mikroskoptyp etwas anders aus, das h?ngt von der Herstellungsfirma aber auch von der Baureihe ab. Es ist aber wie mit dem Auto: Es gibt
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發(fā)表于 2025-3-25 00:10:40 | 只看該作者
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