Titlebook: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie; Eine Einführung für Jürgen Thomas,Thomas Gemming Textbook 20131st edition Springer-Verlag

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書(shū)目名稱(chēng)Analytische Transmissionselektronenmikroskopie影響因子(影響力)

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書(shū)目名稱(chēng)Analytische Transmissionselektronenmikroskopie網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度

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書(shū)目名稱(chēng)Analytische Transmissionselektronenmikroskopie被引頻次

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書(shū)目名稱(chēng)Analytische Transmissionselektronenmikroskopie年度引用

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書(shū)目名稱(chēng)Analytische Transmissionselektronenmikroskopie讀者反饋

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,Wir erh?hen die Vergr??erung,iegen. Die Atomabst?nde in den Kristallgittern sind in dieser Gr??enordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzfl?chen auf atomarer Skale geh?rt dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergr??erten und hochaufgel?sten Abbildung amorpher Materialien auftreten.

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Springer-Verlag Wien 2013

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Jürgen Thomas,Thomas GemmingFokus ist auf eine praktische Herangehensweise anstatt nur Beschreibungen von den Grundlagen.Zahlreiche Tipps basierend auf mehrj?hriger praktischer Erfahrung mit TEM.Erkl?rt die Prinzipien und Anwend

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https://doi.org/10.1007/b102300sterelektronenmikroskop. Damit geht es um ein Mikroskop im engeren Sinn, d.h. um ein Ger?t, in dem ein Gegenstand, d.h. die zu untersuchende Probe, durchstrahlt und optisch abgebildet wird. Ungeachtet dessen kann in diesem Mikroskop der Elektronenstrahl auch auf die Probe fokussiert und gerastert we

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https://doi.org/10.1007/b102300iner dünnen Probe und dem Beugungsmuster von den gleichen Strukturen umgeschaltet werden kann. Wir wollen deshalb erkl?ren, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops ge?ndert werden muss, damit wir die Beugungsmuster auch sehen k?nnen

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