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SCIE期刊IEEE Design & Test 2024/2025影響因子:1.909 (IEEE DES TEST) (2168-2356). (COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE)(計

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發(fā)表于 2025-3-26 22:51:48 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 04:09:28 | 只看該作者
Submitted on: 22 November 2022. Revised on: 21 March 2023. Accepted on: 24 April 2023. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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發(fā)表于 2025-3-27 06:27:11 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 12:44:55 | 只看該作者
Submitted on: 16 August 2018. Revised on: 13 November 2018. Accepted on: 04 December 2018. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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發(fā)表于 2025-3-27 17:02:37 | 只看該作者
Submitted on: 04 December 2016. Revised on: 18 January 2017. Accepted on: 09 February 2017. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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發(fā)表于 2025-3-27 21:22:59 | 只看該作者
Submitted on: 01 January 2001. Revised on: 17 April 2001. Accepted on: 16 May 2001. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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