找回密碼
 To register

QQ登錄

只需一步,快速開始

掃一掃,訪問微社區(qū)

打印 上一主題 下一主題

SCIE期刊IEEE Design & Test 2024/2025影響因子:1.909 (IEEE DES TEST) (2168-2356). (COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE)(計

[復(fù)制鏈接]
查看: 44301|回復(fù): 35
樓主
發(fā)表于 2025-3-21 19:13:57 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
期刊全稱IEEE Design & Test
期刊簡稱IEEE DES TEST
影響因子20241.909
視頻videohttp://file.papertrans.cn/12/11770/11770.mp4
ISSN2168-2356
eISSN2168-2364
出版商IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
發(fā)行地址445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
學(xué)科分類1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Computer Science, Hardware & Architecture | Engineering, Electrical & Electronic; 2.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Computer Science & Engineering; 3.Essential Science Indicators--Computer Science;
出版語言English
The information of publication is updating

SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)影響因子


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(IEEE DES TEST)影響因子@(計算機科學(xué),硬件與架構(gòu))學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)總引論文


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(IEEE DES TEST)總引論文@(計算機科學(xué),硬件與架構(gòu))學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)影響因子


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(IEEE DES TEST)總引頻次@(計算機科學(xué),硬件與架構(gòu))學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)即時影響因子


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(IEEE DES TEST)即時影響因子@(計算機科學(xué),硬件與架構(gòu))學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)五年累積影響因子


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(IEEE DES TEST)五年累積影響因子@(計算機科學(xué),硬件與架構(gòu))學(xué)科排名


單選投票, 共有 0 人參與投票
 

0票 0%

Perfect with Aesthetics

 

0票 0%

Better Implies Difficulty

 

0票 0%

Good and Satisfactory

 

0票 0%

Adverse Performance

 

0票 0%

Disdainful Garbage

您所在的用戶組沒有投票權(quán)限
沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 22:15:48 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 02:29:30 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 05:06:41 | 只看該作者
Submitted on: 15 July 2018. Revised on: 11 November 2018. Accepted on: 08 January 2019. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
5#
發(fā)表于 2025-3-22 09:40:24 | 只看該作者
Submitted on: 28 June 2001. Revised on: 12 September 2001. Accepted on: 20 October 2001. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
6#
發(fā)表于 2025-3-22 14:44:47 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:57:00 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-23 00:21:56 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 01:52:04 | 只看該作者
Submitted on: 16 April 2019. Revised on: 26 June 2019. Accepted on: 24 July 2019. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
10#
發(fā)表于 2025-3-23 06:14:56 | 只看該作者
Submitted on: 09 August 2007. Revised on: 11 November 2007. Accepted on: 16 December 2007. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
 關(guān)于派博傳思  派博傳思旗下網(wǎng)站  友情鏈接
派博傳思介紹 公司地理位置 論文服務(wù)流程 影響因子官網(wǎng) 吾愛論文網(wǎng) 大講堂 北京大學(xué) Oxford Uni. Harvard Uni.
發(fā)展歷史沿革 期刊點評 投稿經(jīng)驗總結(jié) SCIENCEGARD IMPACTFACTOR 派博系數(shù) 清華大學(xué) Yale Uni. Stanford Uni.
QQ|Archiver|手機版|小黑屋| 派博傳思國際 ( 京公網(wǎng)安備110108008328) GMT+8, 2025-10-5 12:21
Copyright © 2001-2015 派博傳思   京公網(wǎng)安備110108008328 版權(quán)所有 All rights reserved
快速回復(fù) 返回頂部 返回列表
遂昌县| 南岸区| 肥西县| 开封县| 吉首市| 莫力| 碌曲县| 罗平县| 洛阳市| 黔南| 重庆市| 宁乡县| 长兴县| 土默特左旗| 丰都县| 成武县| 逊克县| 元江| 新余市| 若羌县| 谢通门县| 阳朔县| 凌云县| 崇信县| 牡丹江市| 昭苏县| 崇文区| 西峡县| 宕昌县| 宝清县| 合江县| 大化| 巴林右旗| 永顺县| 郧西县| 波密县| 育儿| 顺义区| 石河子市| 郎溪县| 宜章县|