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SCIE期刊IEEE Design & Test 2024/2025影響因子:1.909 (IEEE DES TEST) (2168-2356). (COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE)(計

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發(fā)表于 2025-3-21 19:13:57 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
期刊全稱IEEE Design & Test
期刊簡稱IEEE DES TEST
影響因子20241.909
視頻videohttp://file.papertrans.cn/12/11770/11770.mp4
ISSN2168-2356
eISSN2168-2364
出版商IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
發(fā)行地址445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
學(xué)科分類1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Computer Science, Hardware & Architecture | Engineering, Electrical & Electronic; 2.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Computer Science & Engineering; 3.Essential Science Indicators--Computer Science;
出版語言English
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SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)影響因子


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(IEEE DES TEST)影響因子@(計算機科學(xué),硬件與架構(gòu))學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊IEEE Design & Test(20 21 REV HIST)總引論文


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發(fā)表于 2025-3-21 22:15:48 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 02:29:30 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 05:06:41 | 只看該作者
Submitted on: 15 July 2018. Revised on: 11 November 2018. Accepted on: 08 January 2019. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
5#
發(fā)表于 2025-3-22 09:40:24 | 只看該作者
Submitted on: 28 June 2001. Revised on: 12 September 2001. Accepted on: 20 October 2001. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
6#
發(fā)表于 2025-3-22 14:44:47 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:57:00 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-23 00:21:56 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 01:52:04 | 只看該作者
Submitted on: 16 April 2019. Revised on: 26 June 2019. Accepted on: 24 July 2019. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
10#
發(fā)表于 2025-3-23 06:14:56 | 只看該作者
Submitted on: 09 August 2007. Revised on: 11 November 2007. Accepted on: 16 December 2007. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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