Titlebook: Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongre? für R?ntge; G. M?llenstedt,K. H. Gaukler Book 19

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Present State of X-Ray Interferometryt of which cannot be applied to X-rays because the refractive index of all materials is too close to unity. It is not difficult, however, to deviate or to divide a beam of X-rays by means of diffraction by a crystal lattice. Therefore in existing X-ray interferometers extensive use is made of Laue a

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Untersuchung zur ASR (Anomalous Surface Reflection) von R?ntgenstrahlen mit einer Mikrofokus-R?ntgentierte R?ntgenstrahlung das aus dem sichtbaren Spektralgebiet bekannte Reflexionsgesetz . erfüllt. Ist das erste Medium Luft, dann ist im Wellenl?ngengebiet der R?ntgenstrahlen der Brechungsindex des zweiten Mediums stets kleiner als 1, und es kann bei hinreichend schwacher Absorption des zweiten Me

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