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Titlebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec; Verhandlungen Band I W. Bargmann,G. M

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發(fā)表于 2025-3-21 17:25:07 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
書目名稱Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec
副標(biāo)題Verhandlungen Band I
編輯W. Bargmann,G. M?llenstedt,C. Wolpers
視頻videohttp://file.papertrans.cn/984/983004/983004.mp4
圖書封面Titlebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec; Verhandlungen Band I W. Bargmann,G. M
描述Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausma? die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vortr?ge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 L?ndern gehalten, waren zu ver?ffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht m?glich, alle auf einem Internationalen Kongre? für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vortr?ge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enth?lt sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Ger?te, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schlie?lich der Pr?parationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des
出版日期Book 1960
關(guān)鍵詞Atom; Beugung; Elektron; Elektronen; Elektronenmikroskopie; Felder; Kristallographie; Kristallstruktur; Mikr
版次1
doihttps://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0
isbn_softcover978-3-642-49481-9
isbn_ebook978-3-642-49765-0
copyrightSpringer-Verlag Berlin Heidelberg 1960
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書目名稱Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec影響因子(影響力)




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發(fā)表于 2025-3-21 23:23:01 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-22 03:28:19 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 07:21:18 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0Atom; Beugung; Elektron; Elektronen; Elektronenmikroskopie; Felder; Kristallographie; Kristallstruktur; Mikr
5#
發(fā)表于 2025-3-22 10:10:08 | 只看該作者
6#
發(fā)表于 2025-3-22 16:47:36 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 17:50:05 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-23 01:18:18 | 只看該作者
Elektronen- und R?ntgen-Rastermikroskopie) have been described in the literature. In 1956, an experimental X-ray micro-analyzer (.) was constructed at the A. E. I. Research Laboratory for research into micro — analysis ; this instrument has also been used in problems of metallurgy and surface physics (.) in conjunction with electron diffraction and electron microscopy.
9#
發(fā)表于 2025-3-23 01:33:12 | 只看該作者
Y. Sakaki,S. Maruse,M. Drechsler,V. E. Cosslett,W. C. Nixon,J. K. Trolan,W. P. Dyke,M. I. Elinson,R.
10#
發(fā)表于 2025-3-23 07:28:13 | 只看該作者
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