| 書目名稱 | Transiente Fehler in Mikroprozessoren |
| 副標(biāo)題 | Mechanismen zur Erke |
| 編輯 | Bernhard Fechner |
| 視頻video | http://file.papertrans.cn/929/928675/928675.mp4 |
| 圖書封面 |  |
| 描述 | Die Existenz moderner Gesellschaften w?re ohne verl?ssliche Rechensysteme, z.B. in der Flugsicherung, der Steuerung von Kernkraftwerken und im Automobilbau praktisch unm?glich. Mit steigender Komplexit?t wird es immer schwieriger die Zuverl?ssigkeit solcher Systeme zu gew?hrleisten. ..Bernhard Fechner entwickelt in dieser Arbeit mehrere innovative Fehlertoleranzmechanismen, die sich durch ihre Einfachheit und au?erordentliche Effizienz hinsichtlich ihres Platz-, Zeit- und Energieverbrauchs auszeichnen. Validiert werden diese Mechanismen durch Implementierungen für FPGAs, Standardzellen und durch Software-Fehlerinjektionen.. |
| 出版日期 | Book 2009 |
| 關(guān)鍵詞 | Chip-Entwurf; Eingebettete Systeme; FPGA; Fehlerinjektion; Fehlertoleranz; Field Programmable Gate Array; |
| 版次 | 1 |
| doi | https://doi.org/10.1007/978-3-8348-9278-2 |
| isbn_softcover | 978-3-8348-0714-4 |
| isbn_ebook | 978-3-8348-9278-2 |
| copyright | Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, Wiesbaden 2009 |
|Archiver|手機(jī)版|小黑屋|
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GMT+8, 2025-10-23 21:21
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