| 書(shū)目名稱(chēng) | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen | | 編輯 | Hans Wojtkowiak | | 視頻video | http://file.papertrans.cn/904/903339/903339.mp4 | | 叢書(shū)名稱(chēng) | Leitf?den und Monographien der Informatik | | 圖書(shū)封面 |  | | 描述 | Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal- tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent- worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga- bensteIlung gilt gleicherma?en für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei gr??eren integrierten Schaltungen fast zwangsl?ufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test h?ufig nicht oder nur mit gr??eren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zug?nglichkeit" integrierter Schal- tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschr?nkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange- ordnet, d.h. da? die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ans?tze, die von hierar- chisch h | | 出版日期 | Textbook 1988 | | 關(guān)鍵詞 | Algebra; Algorithmen; Boolesche Algebra; Boolesche Funktion; Entwurf; Komplexit?t; Logik; Signatur; Simulati | | 版次 | 1 | | doi | https://doi.org/10.1007/978-3-322-96665-0 | | isbn_softcover | 978-3-519-02263-3 | | isbn_ebook | 978-3-322-96665-0 | | copyright | Springer Fachmedien Wiesbaden 1988 |
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GMT+8, 2025-10-23 15:00
發(fā)表于 2025-3-21 19:06:09
