Titlebook: Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis; John W. Sheppard,William R. Simpson Book 1998 Springer Science+Busine

解開

characteristic

,Pass/Fail Limits—The Key to Effective Diagnostic Tests,Pass/Fail limits to discriminate among suspected failures in a known faulty circuit and improving test outcome confidence. Analog circuit simulations serve to illustrate failed circuit behavior characteristics and the effect of assigning multiple Pass/Fail limits to a single test setup for improved diagnostic resolution.

正論

978-1-4613-7535-7Springer Science+Business Media New York 1998

敵手

鑲嵌細(xì)工

Frontiers in Electronic Testinghttp://image.papertrans.cn/r/image/827816.jpg

詩(shī)集

https://doi.org/10.1007/978-1-4615-5545-2Standard; complexity; diagnosis; fuzzy; fuzzy logic; model; testing

Frequency-Range

引導(dǎo)

Asperity

變形

Timothy M. Bearse,Michael L. Lynchen, warum Proteste unter bestimmten Bedingungen entstehen, oder warum sie das nicht tun. Deshalb folgt nun zuerst eine kurze Darstellung der Entstehung und Richtung der Unzufriedenheitstheorien — daran anknüpfend wird das Konzept der relativen Deprivation vorgestellt, um schlie?lich auch noch auf in