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Titlebook: Raster-Elektronenmikroskopie; Ludwig Reimer,Gerhard Pfefferkorn Book 19731st edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1973 Elektron.Elekt

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發(fā)表于 2025-3-21 19:14:54 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie
編輯Ludwig Reimer,Gerhard Pfefferkorn
視頻videohttp://file.papertrans.cn/822/821331/821331.mp4
圖書封面Titlebook: Raster-Elektronenmikroskopie;  Ludwig Reimer,Gerhard Pfefferkorn Book 19731st edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1973 Elektron.Elekt
出版日期Book 19731st edition
關(guān)鍵詞Elektron; Elektronen; Elektronenmikroskopie; Halbleiter; Lumineszenz; Rasterelektronenmikroskop; Rasterele
版次1
doihttps://doi.org/10.1007/978-3-662-00083-0
isbn_ebook978-3-662-00083-0
copyrightSpringer-Verlag Berlin Heidelberg 1973
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書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie影響因子(影響力)




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie影響因子(影響力)學(xué)科排名




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie網(wǎng)絡(luò)公開度




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie網(wǎng)絡(luò)公開度學(xué)科排名




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie被引頻次




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie被引頻次學(xué)科排名




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie年度引用




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie年度引用學(xué)科排名




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie讀者反饋




書目名稱Raster-Elektronenmikroskopie讀者反饋學(xué)科排名




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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-22 00:01:06 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 01:39:20 | 只看該作者
http://image.papertrans.cn/r/image/821331.jpg
地板
發(fā)表于 2025-3-22 06:03:38 | 只看該作者
5#
發(fā)表于 2025-3-22 11:22:28 | 只看該作者
,Materialanalyse mit Augerelektronen, R?ntgen- und Lichtquanten,lektronensto?ionisation entleert wurden. Für Messungen in der Praxis interessieren vor allem die überg?nge von der L.- und L.-Schale in die K-Schale (Kα.- und Kα.-Linie) von der M- in die K-Schale (Kβ) und bei Elementen h?herer Ordnungszahl auch die L- und M-Strahlung aus dem übergang in dic L- bzw. M-Schale als energetisch tiefsten Zustand.
6#
發(fā)表于 2025-3-22 13:53:20 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 19:31:29 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-22 21:19:36 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 04:05:12 | 只看該作者
,Pr?paration,In der Raster-Elektronenmikroskopie kann man Oberfl?chen fester Objekte direkt abbilden, wenn sie.Falls diese Bedingungen nicht von vornherein erfüllt sind, müssen geeignete pr?parative Ma?nahmen ergriffen werden. Darüber hinaus kann durch bestimmte Pr?parationsmethoden der Informationsgehalt der Aufnahmen erh?ht werden.
10#
發(fā)表于 2025-3-23 05:36:18 | 只看該作者
Elektronenoptik, Aufbau und Funktion des Raster-Elektronenmikroskopes,ehalten. Es soll sich nach M?glichkeit eine Raumladung vor der Kathode ausbilden. Dieser Betrieb wird durch eine Hilfselektrode (Wehnelt-Zylinder) zwischen Kathode und Anode aufrechterhalten (Abb. 3.1a). Sie befindet sich auf einem gegenüber der Kathode negativen Potential der Gr??enordnung — 100 V.
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