書目名稱 | Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen | 副標(biāo)題 | Simulation mit PSPIC | 編輯 | Peter Baumann | 視頻video | http://file.papertrans.cn/742/741144/741144.mp4 | 概述 | Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen.Erg?nzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler.Simulationswerkzeug für den Elektr | 圖書封面 |  | 描述 | .Erg?nzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgew?hlter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazit?tsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverst?rker und Optokoppler.. | 出版日期 | Textbook 20121st edition | 關(guān)鍵詞 | Bipolartransistor; Feldeffekttransistor; Halbleiterdiode; OrCAD-PSPICE; SPICE-Modellparameter; Sperrschic | 版次 | 1 | doi | https://doi.org/10.1007/978-3-8348-2495-0 | isbn_ebook | 978-3-8348-2495-0 | copyright | Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden 2012 |
The information of publication is updating
|
|