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Titlebook: Neural Models and Algorithms for Digital Testing; Srimat T. Chakradhar,Vishwani D. Agrawal,Michael L Book 1991 Springer Science+Business M

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樓主: Hazardous
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發(fā)表于 2025-3-23 13:03:59 | 只看該作者
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Transitive Closure And Testing,in the circuit. Since the implication graph only includes pairwise (or binary) relations, it is a partial representation of the netlist. The transitive closure of the implication graph contains pairwise logical relationships among all signals. When signal relationships describing fault activation an
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