Titlebook: Microwave Integrated Circuits; I. Kneppo,J. Fabian,M. Pavel Book 1994 Springer Science+Business Media Dordrecht 1994 Balun.LED.Planar.Tran

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書目名稱Microwave Integrated Circuits影響因子(影響力)

書目名稱Microwave Integrated Circuits影響因子(影響力)學(xué)科排名

書目名稱Microwave Integrated Circuits網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度

書目名稱Microwave Integrated Circuits網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度學(xué)科排名

書目名稱Microwave Integrated Circuits被引頻次

書目名稱Microwave Integrated Circuits被引頻次學(xué)科排名

書目名稱Microwave Integrated Circuits年度引用

書目名稱Microwave Integrated Circuits年度引用學(xué)科排名

書目名稱Microwave Integrated Circuits讀者反饋

書目名稱Microwave Integrated Circuits讀者反饋學(xué)科排名

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Measuring and Testing,aterials and parts prior to the production (measurements of the permittivity of substrates, choice of low-noise transistor chips), and last, measurements serve for complex testing of the final MICs. The set of high-frequency characteristics obtained by measurement is also an important basic material for the future application of the given MIC.

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