Titlebook: Informelle Mitgliedschaft in Brand Communities; Einflussfaktoren, Ko Melanie Hoppe Book 2009 Gabler Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden

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https://doi.org/10.1007/978-3-8349-8343-5Brand; Differenzierungsmerkmale; Empirische Studie; Loyalit?t; Markenfans; Markenloyalit?t; Markenmanageme

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Forschungsgruppe Konsum und Verhaltenhttp://image.papertrans.cn/i/image/466248.jpg

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Bruce L. Yoderle Event Effect (SEE). TID is observed for metal oxide semiconductor (MOS) devices when charges are accumulated in oxide and interface between oxide and semiconductor. DDD is the degradation of semiconductor devices due to the creation of crystal damage by irradiation. SEE occurs by charge generated

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