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Titlebook: Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter Entwurf und Test; Hans-Joachim Wunderlich Textbook 1991 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1991

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樓主: dabble
41#
發(fā)表于 2025-3-28 18:26:11 | 只看該作者
Einleitung,lungsverfahren k?nnen den Test und die Aussonderung defekter Schaltungen nicht überflüssig machen. Die steigende Integrationsdichte mit Leitungsbreiten in der Gr??enordnung von 1 μm führt dazu, da? immer kleinere Defekte bereits den Ausfall der Schaltung verursachen k?nnen.
42#
發(fā)表于 2025-3-28 22:12:55 | 只看該作者
Schaltungs- und Fehlermodellierung,st?nden und Eingabebelegungen kann nicht die Entdeckung aller m?glichen Fehler des Gesamtschaltwerks sichern und ist bereits bei 20 Eing?ngen und 20 Flipflops nicht mehr in sinnvoller Zeit durchzuführen.
43#
發(fā)表于 2025-3-28 23:51:33 | 只看該作者
44#
發(fā)表于 2025-3-29 04:42:00 | 只看該作者
45#
發(fā)表于 2025-3-29 10:54:00 | 只看該作者
Textbook 1991chaltungen und für die zugeh?rige Testerzeugung. Die Verfahren werden in einem einheitlichen theoretischen Rahmen vorgestellt. Bei dieser einheitlichen Modellierung der Schaltung und der Algorithmen bleibt jedoch stets die Verbindung zur konkreten technischen Realisierung gewahrt.
46#
發(fā)表于 2025-3-29 14:05:35 | 只看該作者
47#
發(fā)表于 2025-3-29 17:53:13 | 只看該作者
,Prüfpfad-Techniken,reing?ngen, Takte genannt, bestimmt, ob ein speicherndes Bauelement seinen Zustand ?ndern kann oder nicht. Den Hauptteil des Kapitels nehmen Techniken ein, um die speichernden Bauelemente direkt lesbar und setzbar zu machen, so da? diese als Prim?reing?nge für das verbleibende Schaltnetz zu nutzen sind.
48#
發(fā)表于 2025-3-29 19:55:26 | 只看該作者
,Der pseudo-ersch?pfende Test,tionsfehler der Schaltung. Jedoch w?chst hier die Testl?nge exponentiell mit der Zahl der prim?ren Eing?nge. Dieses Problem kann in vielen F?llen durch den pseudo-ersch?pfenden Test [McBo81] gel?st werden, bei dem für jeden Ausgang o der zugeh?rige Kegel K(o) durch vollst?ndige Aufz?hlung aller Musterkombinationen ersch?pfend getestet wird.
49#
發(fā)表于 2025-3-30 03:30:05 | 只看該作者
50#
發(fā)表于 2025-3-30 05:42:13 | 只看該作者
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