Titlebook: Heidelberger Jahrbücher; H. Schipperges Conference proceedings 1982 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1982 Astronomie.Mathematik.Naturwiss

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書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher影響因子(影響力)

書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher影響因子(影響力)學(xué)科排名

書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度

書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度學(xué)科排名

書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher被引頻次

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書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher年度引用

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書(shū)目名稱(chēng)Heidelberger Jahrbücher讀者反饋

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Hans-Günther Sonntagf-test) schemes for VLSI chips.Table of Contents: Introduction / Fault Detection in Logic Circuits / Design for Testability / Built-in Self-Test / References978-3-031-79784-2978-3-031-79785-9Series ISSN 1932-3166 Series E-ISSN 1932-3174

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Pet?r Beron und Seine Fischfibelehenden 18. Jahrhundert. Nach einer langen Periode weitgehender Isolation von der geistigen Entwicklung Europas begannen in dieser Zeit z?gernd neue Einflüsse über die Randgebiete des Osmanischen Reiches in das Zentrum der Balkanhalbinsel vorzudringen. Auf ihrem Wege verloren sie viel an ihrer urspr

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Heidelberger Jahrbücherhttp://image.papertrans.cn/h/image/425290.jpg

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Eike WolgastThe phrase . refers to how a circuit is either designed or modified so that the testing of the circuit is simplified. Several techniques have been developed over the years for improving the testability of logic circuits. These can be categorized into two categories: . and

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Ruth Schmidt-WiegandOne of the simplest operations often needed in a microprocessor program is to add together two bytes held in the writable store and put the sum also into the store. This can only be done using the accumulator, so that the procedure becomes.Here NUM1 and NUM2 are the addresses of the two bytes to be added and SUM the address allocated for the sum.

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