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Titlebook: Handbook of Advanced Nondestructive Evaluation; Nathan Ida,Norbert Meyendorf Living reference work 20200th edition Emerging nondestructiv

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樓主: peak-flow-meter
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發(fā)表于 2025-3-28 18:01:07 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 19:01:39 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-29 00:29:48 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-29 06:18:56 | 只看該作者
3D X-ray Tomography - Basics and Latest Developments,eld are mentioned. Additionally, particular issues of micro- and nano-scale X-ray Computed Tomography are described. Finally, we attempt to look forward into the upcoming future of industrial X-ray imaging systems which most probably will evolve to cognitive sensor networks by applying advanced machine-learning technologies.
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發(fā)表于 2025-3-29 10:10:51 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-29 11:24:55 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-30 03:02:22 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-30 06:26:22 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-8349-7136-4ology are between 2 nm and 1 μm on flat and smooth substrates. In the context of use of X-ray reflectivity as an NDE technique in a manufacturing environment, there is discussion of approaches to very rapid data collection.
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