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Titlebook: GI — 18. Jahrestagung II; Vernetzte und komple Rüdiger Valk Conference proceedings 1988 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988 Augmented Re

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樓主: 相反
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發(fā)表于 2025-3-27 00:41:13 | 只看該作者
978-3-540-50360-6Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988
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發(fā)表于 2025-3-27 02:10:50 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 06:07:09 | 只看該作者
0343-3005 Overview: 978-3-540-50360-6978-3-642-74135-7Series ISSN 0343-3005
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發(fā)表于 2025-3-27 11:28:50 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31522-4 semiconductor processing technology, on the other hand computer aided design. Whereas the first is a problem for physics and chemistry, the progress in the second field results from large activities in electrical engineering and computer science. Although a large body of knowledge about solutions t
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發(fā)表于 2025-3-27 16:18:17 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31521-7forderlichen kurzen Reaktionszeiten zu erreichen. Wichtige Schwerpunkte unserer Arbeit sind in diesem Zusammenhang die Entwicklung einer geeigneten Architektur für die Realisierung der Algorithmen und die Integration der entwickelten Schaltungen als Coprozessor in ein bestehendes Rechnersystem. In d
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發(fā)表于 2025-3-27 19:14:07 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31520-0n, das in Wafer Scale Technik gefertigt wird. Ein Knotenprozessor enth?lt sechs ein-Bit Register, eine ein-Bit ALU und 128 Bits RAM. Zur Erzielung von Defekttoleranz wird eine zweistufige Hierarchie mit unterschiedlichen Rekonfigurierungskonzepten verwendet. Anwendungen eines solchen SIMD-Arrays erg
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發(fā)表于 2025-3-28 00:04:50 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-42314-1stiger Teststrategien, die auf spezielle Problemstellungen abgestimmt werden. Im Rahmen dieses Beitrages wird aufgezeigt, wie durch den Einsatz eines unvollst?ndigen Prüfpfades die Testmusterbestimmung nicht für ein beliebiges synchrones Schaltwerk durchzuführen ist, sondern auf den einfacheren Test
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發(fā)表于 2025-3-28 05:11:34 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 08:17:18 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-663-05138-1nen Konflikte auftreten, die mit Hilfe von Backtracking-Verfahren aufgel?st werden. Wir pr?sentieren hier eine Methode, die es erlaubt, globale Schaltungseigenschaften bei der Testmustergenerierung auszunutzen. Am Beispiel des FAN-Algorithmus wird demonstriert, wie diese Methode einen hierarchischen
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發(fā)表于 2025-3-28 13:12:09 | 只看該作者
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