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Titlebook: Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Pr?parationsmethoden; Ludwig Reimer Book 19591st edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 195

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樓主
發(fā)表于 2025-3-21 17:52:59 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
書目名稱Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Pr?parationsmethoden
編輯Ludwig Reimer
視頻videohttp://file.papertrans.cn/307/306997/306997.mp4
圖書封面Titlebook: Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Pr?parationsmethoden; Ludwig Reimer Book 19591st edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 195
描述Das vorliegende Buch wendet sich an den st?ndig zunehmenden Kreis der elektronenmikroskopisch arbeitenden Wissenschaftler und soll ein~ übersicht über den augenblicklichen Stand der elektronenmikroskopi- schen Untersuchungs- und Pr?parationstechnik vermitteln. Die Pr?paration mu? speziell auf die physikalischen Eigenarten der elektronenmikroskopischen Bildentstehung abgestimmt werden. W?h- rend bei technischen und physikalischen Problemen die Oberfl?chen- abdruckmethode bevorzugt zur Anwendung kommt, dominiert auf dem biologischen Sektor die Dünnschnitt-Technik. Man sollte jedoch nicht dazu neigen, nur die Fortschritte auf einem dieser Gebiete zu verfolgen. Es zeigen sich viele gemeinsame Gesichtspunkte, die auf beiden An- wendungsgebieten zur Verbesserung der Pr?paration ausgenutzt werden k?nnen. So ist es z. B. m?glich, anorganische Pulver oder Metalle in Plexiglas einzubetten und mit Diamantmessern zu schneiden oder organische Objekte als Erg?nzung mit elektronenmikroskopischen Ober- fl?chenabdrücken zu untersuchen. Das Buch soll deshalb eine allgemeine Einführung in die wichtigsten Pr?parationsverfahren geben. Dabei wird auch vor allem das Artefakt- problem an zahlreichen Beisp
出版日期Book 19591st edition
關(guān)鍵詞Beugung; Beugungserscheinungen; Chemie; Elektronenmikroskopie; Lichtmikroskop; Metall; Mikroskopie; Physik;
版次1
doihttps://doi.org/10.1007/978-3-662-01452-3
isbn_ebook978-3-662-01452-3
copyrightSpringer-Verlag Berlin Heidelberg 1959
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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 22:41:18 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 02:56:51 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 08:10:11 | 只看該作者
Stereoabbildungenelativ gro?en Tiefensch?rfe bei der elektronenmikroskopischen Abbildung, die bei gleicher Endvergr??erung diejenige bei lichtoptischen Abbildungen um 2–3 Zehnerpotenzen überragt. Zu einer Absch?tzung der Tiefensch?rfe gelangt man durch eine einfache geometrische Betrachtung (. und . 1939). Eine axia
5#
發(fā)表于 2025-3-22 10:23:19 | 只看該作者
Entstehung des Bildkontrastesoll die Entstehung des Bildkontrastes in diesem Kapitel n?her behandelt werden, wobei Wert darauf gelegt wird, die von der theoretischen Physik gewonnenen Ergebnisse in m?glichst kurzer, aber anschaulicher Form darzulegen. Naturgem?? kann dabei nicht v?llig auf die Wiedergabe von Formeln verzichtet
6#
發(fā)表于 2025-3-22 16:35:13 | 只看該作者
Elektronenbeugunggewinnen. Mit den vielseitigen optischen M?glichkeiten (Feinstrahlbeugung, Feinbereichsbeugung u. a.) ist ein Elektronenmikroskop in vielen Punkten bei geeigneter Linsenerregung einer reinen Elektronenbeugungsanlage überlegen. Die Hauptanwendung der Elektronenbeugung in Zusammenhang mit elektronenmi
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:22:14 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-23 01:00:38 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 04:23:03 | 只看該作者
Bildaufzeichnung und Intensit?tsmessungen/CdS (geringer Zusatz von CdS) bestehen. Durch Zusatz kleiner Verunreinigungen (z. B. Cu), die im Leuchtstoff atomar gel?st werden, kann man die Farbe der Luminescenz ver?ndern, und w?hlt sie am zweckm??igsten so, da? die Hauptintensit?t in der spektralen Helligkeitsverteilung mit dem Maximum der Au
10#
發(fā)表于 2025-3-23 06:39:30 | 只看該作者
Objektblenden und Tr?gernetzel nicht gr??er als 0,1 mm w?hlen, da sonst die Schichten bereits w?hrend der Pr?paration oder zumindestens bei der Bestrahlung mit Elektronen zerrei?en. Es empfiehlt sich sogar mit dem Durchmesser weiter herunterzugehen, sobald es das spezielle Objekt erlaubt. Dann ist die Erw?rmung durch Elektronen
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