Titlebook: Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Pr?parationsmethoden; Ludwig Reimer Book 1967Latest edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Andere AbbildungsverfahrenPr?paratdicken bis zu einigen 1000 ? durchstrahlt werden k?nnen. Deshalb ist es nicht m?glich, mit diesem Ger?t Oberfl?chen von kompaktem Material direkt elektronenoptisch abzubilden. Dies gelingt nur auf dem Umweg über einen Oberfl?chenabdruck. Für viele Zwecke besteht das Interesse, diesen Abdruck

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Bildkontrast in amorphen Objektenkt kann durch elastische Streuprozesse an den Atomkernen und durch unelastische Streuung an der Elektronenhülle erfolgen. Beide Prozesse rufen Richtungs?nderungen der Elektronen hervor. Durch die Objektiv-Aperturblende werden alle Elektronen zurückgehalten, welche in Streuwinkel gr??er als die Objek

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