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Titlebook: Elektronen-übermikroskopie; Physik · Technik · E Manfred Baron Ardenne Book 1940 Julius Springer in Berlin 1940 Bauelemente.Elektronenmikro

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樓主: 矜持
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發(fā)表于 2025-3-28 15:22:27 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 18:56:40 | 只看該作者
,Die praktische Ausführung des Elektronenmikroskopes,Abbildung gilt für einen Anodenspannungswert von 60 kV, der, wie aus den Schnittpunkten der verschiedenen Geraden hervorgeht, hiermit einer Massendicke des Objekts von etwa 5 ?10. g ? mm/cm. harmoniert. Objekte dieser Massendicke entsprechen etwa den dünnsten, praktisch vorkommenden Objekten auf Tr?
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發(fā)表于 2025-3-28 22:57:23 | 只看該作者
Stereo-Elektronenmikroskopie,t, aus einem einzigen stereoskopischen Doppelbild den r?umlichen Aufbau des Objektes bei für alle Raumebenen h?chster Bildsch?rfe sichtbar zu machen.. Die . gibt zahlenm??ig die Ausdehnung des mit gr??ter Sch?rfe abgebildeten Bereiches in Richtung der Mikroskopachse an. Beispielsweise folgt aus der
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發(fā)表于 2025-3-29 04:02:31 | 只看該作者
Allgemeine Grundlagen,ehen die Gegenst?nde und Erscheinungen unserer Umgebung entweder durch das von ihnen reflektierte oder unmittelbar ausgehende Licht. Die M?glichkeit der optischen Abbildung, die sowohl im menschlichen Auge selbst als auch bei den verschiedenen Instrumenten der gew?hnlichen Lichtoptik (Lupe, Mikrosko
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發(fā)表于 2025-3-29 10:30:18 | 只看該作者
Die theoretischen Grundlagen des Elektronenmikroskopes,en erzielen, die weitgehende Analogie zu den Anordnungen der Lichtmikroskopie aufweisen. Ebenso wie in der Lichtmikroskopie bewirken auch in der übermikroskopie im allgemeinen zwei Vergr??erungsstufen die Gesamtvergr??erung des Instrumentes. Um das Verst?ndnis der Wirkungsweise zu erleichtern, soll
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發(fā)表于 2025-3-29 14:49:09 | 只看該作者
,Wichtige Gr??en für die Dimensionierung von Elektronenmikroskopen,ingewiesen und die durch Magnetfeldschwankungen eintretende Begrenzung des Aufl?sungsverm?gens quantitativ angegeben. Beispielsweise darf die ?nderung der magnetischen Feldst?rke senkrecht zur optischen Achse am Ort des Strahlenganges für 3 mm Brennweite und die Annahmen der Abb·45 etwa 6·10. Gau? (
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發(fā)表于 2025-3-29 16:15:38 | 只看該作者
Bauelemente und Hilfseinrichtungen der Elektronenmikroskope,hodensystems in Hochspannungs-Elektronenstrahlr?hren besteht. In beiden F?llen wird mit Anodenspannungen über 10. V gearbeitet und ein m?glichst kr?ftiger — von einem kleinen Querschnitt ausgehender — Elektronenstrom gewünscht, wobei gleichzeitig angestrebt wird, da? die Elektronenstr?mung unter ein
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發(fā)表于 2025-3-29 20:21:51 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-30 00:38:23 | 只看該作者
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