找回密碼
 To register

QQ登錄

只需一步,快速開始

掃一掃,訪問微社區(qū)

打印 上一主題 下一主題

Titlebook: Electron Microbeam Analysis; Abraham Boekestein (Head Department Instrumental A Conference proceedings 1992 Springer-Verlag Wien 1992 cera

[復制鏈接]
樓主: TOUT
31#
發(fā)表于 2025-3-26 23:41:37 | 只看該作者
32#
發(fā)表于 2025-3-27 02:00:40 | 只看該作者
33#
發(fā)表于 2025-3-27 06:04:27 | 只看該作者
34#
發(fā)表于 2025-3-27 12:22:52 | 只看該作者
Background Anomalies in Electron Probe Microanalysis Caused by Total Reflection,istic X-rays cause this effect. The critical angles of total reflection are determined for a set of X-ray lines. It is shown, that total reflection may occur with all analyzing crystals which are used in electron probe microanalysis.
35#
發(fā)表于 2025-3-27 16:46:40 | 只看該作者
978-3-211-82359-0Springer-Verlag Wien 1992
36#
發(fā)表于 2025-3-27 17:47:33 | 只看該作者
37#
發(fā)表于 2025-3-27 23:11:38 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6679-6ceramics; materials science; metals; spectroscopy; structure
38#
發(fā)表于 2025-3-28 05:42:25 | 只看該作者
39#
發(fā)表于 2025-3-28 09:54:04 | 只看該作者
Auger Microscopy and Electron Probe Microanalysis, with the determination of the Auger backscattering factor or the Φ(0) function in EPMA..Some commonly admitted opinions are reconsidered. The main result is that, in spite of some differences, each technique may benefit from the progress established in the other technique, instead of ignoring each other.
40#
發(fā)表于 2025-3-28 14:06:54 | 只看該作者
 關(guān)于派博傳思  派博傳思旗下網(wǎng)站  友情鏈接
派博傳思介紹 公司地理位置 論文服務流程 影響因子官網(wǎng) 吾愛論文網(wǎng) 大講堂 北京大學 Oxford Uni. Harvard Uni.
發(fā)展歷史沿革 期刊點評 投稿經(jīng)驗總結(jié) SCIENCEGARD IMPACTFACTOR 派博系數(shù) 清華大學 Yale Uni. Stanford Uni.
QQ|Archiver|手機版|小黑屋| 派博傳思國際 ( 京公網(wǎng)安備110108008328) GMT+8, 2025-10-15 13:47
Copyright © 2001-2015 派博傳思   京公網(wǎng)安備110108008328 版權(quán)所有 All rights reserved
快速回復 返回頂部 返回列表
南充市| 灵台县| 崇阳县| 沙坪坝区| 富平县| 喀什市| 建瓯市| 太仓市| 永川市| 沛县| 正宁县| SHOW| 东辽县| 老河口市| 拉孜县| 德昌县| 凤冈县| 汉川市| 乐平市| 同心县| 增城市| 璧山县| 鸡东县| 观塘区| 云阳县| 台中县| 新源县| 台山市| 卢龙县| 景泰县| 三穗县| 正定县| 大方县| 尼勒克县| 沂水县| 迁安市| 怀来县| 香河县| 阿巴嘎旗| 都江堰市| 化隆|