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Titlebook: Economics of Electronic Design, Manufacture and Test; Magdy Abadir,Tony Ambler Book 1994 Springer Science+Business Media New York 1994 ana

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樓主: 烏鴉
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發(fā)表于 2025-3-23 12:04:20 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-23 15:04:43 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-23 20:32:04 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-23 23:58:44 | 只看該作者
Boundary Scan in Board Manufacturing,he resulting test coverage show that with two weeks of test development using boundary scan it is possible to increase the rate of solder opens detection from 80% to 99% for a large ball-grid-array module.
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發(fā)表于 2025-3-24 06:13:17 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-24 06:55:37 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-24 11:22:50 | 只看該作者
,Vertikale Baugrubenabschlüsse,, for systems produced in low volumes, the adoption of full scan DFT can be more cost-effective than partial scan DFT when life-cycle costs are considered if it results in significant reductions in the time taken to get the product to market.
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發(fā)表于 2025-3-24 18:05:23 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-24 20:44:50 | 只看該作者
,Festigkeitseigenschaften der B?den,g. The analysis concluded that PCB area reduction of 40%, using a single PCB instead of three boards, reduction in board cost of over 50% and product weight reduction of over 28% are possible using available technologies.
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發(fā)表于 2025-3-24 23:55:15 | 只看該作者
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