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Titlebook: Dry Etching Technology for Semiconductors; Kazuo Nojiri Book 2015 Springer International Publishing Switzerland 2015 3D Integrated Circuit

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樓主: 爆發(fā)
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發(fā)表于 2025-3-27 00:49:50 | 只看該作者
Anna Budzanowska,Tomasz Pietrzykowskivery 3 years, and logic devices and flash memory products, with 32-nm-level minimum feature sizes, were in volume production as of 2011. Some 28-nm production devices are also available as of this writing.
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發(fā)表于 2025-3-27 02:09:51 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 08:12:59 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 13:11:47 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 17:07:51 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 19:38:08 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-030-36460-1ious issue at the 32-nm node and beyond. Furthermore, the discussion includes a review of the double-patterning technology, which is the hot topic of the moment, and three-dimensional integrated circuit (3D IC) etching for the 16-nm node and beyond.
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發(fā)表于 2025-3-27 22:09:22 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 06:10:43 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 09:34:33 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 12:55:38 | 只看該作者
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