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Titlebook: Automatische Sichtprüfung; Grundlagen, Methoden Jürgen Beyerer,Fernando Puente León,Christian Fres Textbook 20162nd edition Springer-Verlag

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樓主
發(fā)表于 2025-3-21 17:18:20 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
期刊全稱Automatische Sichtprüfung
期刊簡(jiǎn)稱Grundlagen, Methoden
影響因子2023Jürgen Beyerer,Fernando Puente León,Christian Fres
視頻videohttp://file.papertrans.cn/167/166537/166537.mp4
發(fā)行地址Einziges Lehrbuch mit Schwerpunkt automatische Sichtprüfung.Buch erm?glicht umfassendes Verst?ndnis von automatischer Bildgewinnung und –auswertung.Mit methodischem Tiefgang, wissenschaftlicher Gründl
圖書(shū)封面Titlebook: Automatische Sichtprüfung; Grundlagen, Methoden Jürgen Beyerer,Fernando Puente León,Christian Fres Textbook 20162nd edition Springer-Verlag
影響因子.Das Lehrbuch behandelt systematisch die Bildgewinnung für die automatische Sichtprüfung. Die Autoren leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab und stellen alle g?ngigen Bildgewinnungsverfahren in einem strukturierten Zusammenhang dar..Der zweite Teil des Buches ist der Bildsignalbeschreibung und der Bildauswertung gewidmet, wobei insbesondere Methoden behandelt werden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind..Die Autoren skizzieren die Herleitung der beschriebenen Methoden, ohne sich in mathematischen Details zu verlieren. Ihr Ziel ist, dass der Leser die Zusammenh?nge wirklich versteht und das "gro?e Bild" des Fachgebietes erkennt. ?Das Buch ist in sich geschlossen und bedarf zum Verst?ndnis keiner erg?nzenden Literatur.?.Die 2. Auflage wurde gründlich überarbeitet, inhaltlich erg?nzt und aktualisiert. Neue Beispiele verdeutlichen den Bezug zur Praxis..Die Zielgruppen.Das Buch eignet sich für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus. Ebenso wendet es sich an Ingenieure in der Automatisierungstechnik..
Pindex Textbook 20162nd edition
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書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung影響因子(影響力)




書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung影響因子(影響力)學(xué)科排名




書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度




書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度學(xué)科排名




書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung被引頻次




書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung被引頻次學(xué)科排名




書(shū)目名稱Automatische Sichtprüfung年度引用




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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 22:40:41 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 00:33:58 | 只看該作者
Globalization and Urban Implosion vom Hintergrund gewünscht sein, oder es werden in einem Bildsignal die Grenzen zwischen verschiedenen Objekten gesucht. Das segmentierte Bild ist leichter automatisch zu analysieren. Das Segmentierungsergebnis kann z. B. genutzt werden, um in einer anschlie?endenWeiterverarbeitung die Lage und Gr??e der segmentierten Objekte zu bestimmen.
地板
發(fā)表于 2025-3-22 06:49:31 | 只看該作者
5#
發(fā)表于 2025-3-22 09:54:43 | 只看該作者
Patrick Hayden,Chamsy el-Ojeiliierenden Objekten kann es sich einerseits um Prüfobjekte handeln, deren Vorhandensein, Lage oder Vollst?ndigkeit untersucht werden soll. Andererseits kann es die Aufgabe sein, Defekte oder bestimmte Strukturen bzw. Merkmale im Bild zu detektieren.
6#
發(fā)表于 2025-3-22 15:01:34 | 只看該作者
Patrick Hayden,Chamsy el-Ojeili von feinen Details im Bild die maximale verfügbare Aufl?sung ben?tigt, lassen sich grobe Strukturen mit geringerem Aufwand bei reduzierter Aufl?sung analysieren. Zwei Verfahren zur Multiskalenanalyse, die in diesem Kapitel behandelt werden, sind Bildpyramiden und die Wavelet-Transformation.
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:07:05 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-23 00:47:54 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 02:21:37 | 只看該作者
https://doi.org/10.1057/9780230603554uges (siehe Kap. 5). Das sichtbare Licht macht nur einen kleinen Teil des gesamten elektromagnetischen Spektrums aus (siehe Abschn. 2.1.1). Es umfasst den Wellenl?ngenbereich von etwa 380 nm bis 780 nm. Physikalische Messungen von Intensit?t, Leistung etc. lassen sich natürlich unabh?ngig vom mensch
10#
發(fā)表于 2025-3-23 08:47:34 | 只看該作者
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