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SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING 2024/2025影響因子:1.177 (J ELECTRON IMAGING) (1017-9909). (OPTICS)(光學(xué))Science Citation

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發(fā)表于 2025-3-26 22:23:22 | 只看該作者
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Submitted on: 25 October 2002. Revised on: 27 January 2003. Accepted on: 23 February 2003. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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Submitted on: 12 December 2008. Revised on: 07 January 2009. Accepted on: 24 January 2009. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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Submitted on: 07 October 2000. Revised on: 13 January 2001. Accepted on: 28 February 2001. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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