Titlebook: Applied RHEED; Reflection High-Ener Wolfgang Braun Book 1999 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1999 electron energy loss spectroscopy.epita

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書目名稱Applied RHEED影響因子(影響力)

書目名稱Applied RHEED影響因子(影響力)學(xué)科排名

書目名稱Applied RHEED網(wǎng)絡(luò)公開度

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書目名稱Applied RHEED被引頻次

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書目名稱Applied RHEED年度引用

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書目名稱Applied RHEED讀者反饋

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Book 1999aces and interfaces during crystal growth by MBE (molecular beam epitaxy) are presented. Special emphasis is put on RHEED intensity oscillations, segregation phenomena, electron energy-loss spectroscopy and RHEED with rotating substrates.

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https://doi.org/10.1007/BFb0109548electron energy loss spectroscopy; epitaxy; semiconductor; simulation; spectroscopy

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978-3-662-15614-8Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1999

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Applied RHEED978-3-540-49485-0Series ISSN 0081-3869 Series E-ISSN 1615-0430

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Reflection high-energy electron diffraction (RHEED),

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