Titlebook: Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse; Günther Bünau,Klaus-Dieter Kl?ppel Book

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-21 18:51:37

書目名稱Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse影響因子(影響力)

書目名稱Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse影響因子(影響力)學科排名

書目名稱Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse網(wǎng)絡公開度

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書目名稱Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse被引頻次

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書目名稱Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse年度引用

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書目名稱Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse讀者反饋

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只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-21 23:59:54

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-22 03:13:41

Application of STAAD in ESP Structure Designer Ionisierungsbedingungen müssen Sekund?rionenmassenspektren innerhalb m?glichst kurzer Zeiten aufgenommen werden, was einen schnellen Probenwechsel erm?glicht und die Verschmutzung des Massenspektrometers durch Probenmaterial auf ein Mindestma? beschr?nkt. Apparativ ist die Sekund?rionisierung kau

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-22 05:10:05

Einleitung,genen elektrischen Feldern an Oberfl?chen (Feldionisations-, kurz: “FI”- [2], bzw. Felddesorptions-, kurz: “FD”-Methode [3]). Sekund?re Ionen entstehen in der Gasphase durch chemische Reaktionen von Prim?rionen mit neutralen Molekülen [4] (chemische Ionisations-, kurz: “CI”-Methode) oder an Oberfl?c

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-22 11:39:35

,Allgemeines zur Sekund?rionisierung,wenn sich die Massen der Sto?partner gleichen. Inelastische St??e führen zu Fehlordnungen im Gitter und zur elektronischen Anregung, Ionisierung und Abl?sung (bzw. Zerst?ubung, engl. “sputtering”) des Oberfl?chenmaterials.

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-22 14:57:59

,Schlu?bemerkung,er Ionisierungsbedingungen müssen Sekund?rionenmassenspektren innerhalb m?glichst kurzer Zeiten aufgenommen werden, was einen schnellen Probenwechsel erm?glicht und die Verschmutzung des Massenspektrometers durch Probenmaterial auf ein Mindestma? beschr?nkt. Apparativ ist die Sekund?rionisierung kau

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-22 19:46:07

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-23 00:23:50

Anwendungen der hochaufl?senden Sekund?rionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberfl?chenanalyse978-3-322-87528-0

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-23 02:48:15

只看該作者 · 發(fā)表于 2025-3-23 08:44:01

Apparatur, Bauweise und seiner Spezifikationen bezüglich Massenbereich (bis zu 3000 atomaren Masseneinheiten) und Hochaufl?sung (>25000 für EI-Messungen) für den beabsichtigten Zweck besonders eignet. Der grunds?tzliche Aufbau des Massenspektrometers, einschl. des im Rahmen der Arbeit entwickelten Zusatzteils

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