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Titlebook: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS; Elie Maricau,Georges Gielen Book 2013 Springer Science+Business Media New York 2013 Analog Circui

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樓主: TUMOR
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發(fā)表于 2025-3-27 00:38:41 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 03:18:28 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 07:49:06 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-322-91158-2es allowed in the technology process. The latter are typically defined as the stress voltage for which the drain current or threshold voltage does not exceed a given reliability margin (e.g. . or .?mV after . years) (also see Sect.?1.5).
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發(fā)表于 2025-3-27 13:00:45 | 只看該作者
V. V. Toropov,F. Yoshida,E. van der Giessenome due to COVID-19 restrictions, and difficulty accessing daily supplies during the lockdown affected the residents’ risk assessment and evacuation decision-making negatively. Insights into these aspects are expected to contribute to a better understanding of evacuation behavior during double disas
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發(fā)表于 2025-3-27 16:20:29 | 只看該作者
Ramachandran Ishwarya,Govindan Tamilmani,Rengarajan Jayakumar main categories of information systems flexibility impacts on the information systems strategy implementation. Our study contributes to the new information technology adoption literature and provides implications for information technology adoption in practice.
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發(fā)表于 2025-3-27 20:12:04 | 只看該作者
Die Reibung von Nickel auf Nickel im Vakuumtstellen abzuscheren. Diese Haftstellen sind nicht aufzufassen als die Berührungsstellen zweier, an sich selbst?ndiger K?rper; vielmehr flie?en hier beide K?rper zu einem einheitlichen Ganzen zusammen, es hat Kaltverschwei?ung stattgefunden. Bei der ?Reibung“ werden diese Schwei?stellen immer wieder
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發(fā)表于 2025-3-28 01:23:01 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 03:59:47 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 06:49:06 | 只看該作者
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