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SCIE期刊IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY 2024/2025影響因子:2.516 (IEEE T DEVICE MAT RE) (1530-4388). (EN

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發(fā)表于 2025-3-21 16:16:24 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
期刊全稱IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
期刊簡稱IEEE T DEVICE MAT RE
影響因子20242.516
視頻videohttp://file.papertrans.cn/12/11967/11967.mp4
ISSN1530-4388
eISSN1558-2574
出版商IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
發(fā)行地址445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
學科分類1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Engineering, Electrical & Electronic | Physics, Applied; 2.Current Contents Electronics & Telecommunications Collection--Electronics & Electrical Engineering; 3.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Electrical & Electronics Engineering; 4.Essential Science Indicators--Engineering;
出版語言English
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SCIE(SCI)期刊IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY(20 21 REV HIST)影響因子


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發(fā)表于 2025-3-21 21:15:56 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 03:10:43 | 只看該作者
Submitted on: 02 October 2012. Revised on: 24 December 2012. Accepted on: 31 January 2013. ___________________IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
地板
發(fā)表于 2025-3-22 05:15:01 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-22 12:10:39 | 只看該作者
Submitted on: 12 November 2018. Revised on: 27 February 2019. Accepted on: 01 April 2019. ___________________IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
6#
發(fā)表于 2025-3-22 16:16:19 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 21:01:02 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-22 22:24:29 | 只看該作者
Submitted on: 12 February 2003. Revised on: 23 March 2003. Accepted on: 11 May 2003. ___________________IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
9#
發(fā)表于 2025-3-23 04:02:57 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-23 09:11:15 | 只看該作者
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