標題: Titlebook: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen; Albrecht P. Str?le Book 1998 B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998 Einheit.Entwurf.Fehler.Fe [打印本頁] 作者: Harrison 時間: 2025-3-21 19:32
書目名稱Entwurf selbsttestbarer Schaltungen影響因子(影響力)
作者: expansive 時間: 2025-3-21 21:05 作者: Blazon 時間: 2025-3-22 03:11 作者: nitroglycerin 時間: 2025-3-22 05:09 作者: 刺耳的聲音 時間: 2025-3-22 12:22 作者: fixed-joint 時間: 2025-3-22 16:33 作者: fixed-joint 時間: 2025-3-22 17:08 作者: 話 時間: 2025-3-22 21:19
https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2Einheit; Entwurf; Fehler; Fertigung; Forschung; Halbleiterfertigung; Hardware-Strukturen; Methoden; Musterer作者: 項目 時間: 2025-3-23 04:05 作者: 哀悼 時間: 2025-3-23 08:00 作者: MAIZE 時間: 2025-3-23 13:44
Pathophysiologie dementieller Erkrankungenr fehlerfreie Produkte ausgeliefert werden. Die unterschiedlichen Schaltungsstrukturen, Fertigungstechnologien, Stückzahlen und Anforderungen an die Produktqualit?t haben zur Entwicklung einer Vielzahl unterschiedlicher Vorgehensweisen geführt. Zu einer Teststrategie geh?ren作者: freight 時間: 2025-3-23 16:35 作者: amnesia 時間: 2025-3-23 18:11
https://doi.org/10.1007/978-3-663-09140-0 der Schaltung durch Erg?nzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit h?ngt n?mlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da 作者: 委托 時間: 2025-3-24 00:01
https://doi.org/10.1007/978-3-658-36799-2sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften [McBu88], wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollst?ndig defektfreien Fertigungsproze? mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen Qualit?t作者: 圓錐 時間: 2025-3-24 06:06 作者: Carcinogenesis 時間: 2025-3-24 08:23
Entwurf selbsttestbarer Schaltungen978-3-322-85164-2Series ISSN 1615-4584 作者: Implicit 時間: 2025-3-24 12:13
Einleitung,n 200 MHz und h?her betrieben. Die Planungen sehen vor, die minimalen Abmessungen der Strukturen auf der Chipoberfl?che von jetzt ungef?hr 0,35 μm auf ca. 0,10 μm im Jahr 2007 zu verkleinern. Dadurch werden Geschwindigkeit und Komplexit?t der Schaltungen auf einem Chip weiter gesteigert.作者: 聯(lián)想記憶 時間: 2025-3-24 16:07
Defekte und Fehler,r Test soll gerade die h?ufigsten Fehler zuverl?ssig erfassen. Fehlerhafte Chips entstehen, wenn durch St?rungen im Fertigungsproze? nicht die gewünschten Strukturen auf der Chipoberfl?che erzeugt werden. Solche Abweichungen werden . genannt. Die von ihnen verursachten ?nderungen in der Transistor-N作者: Generalize 時間: 2025-3-24 19:53 作者: 強有力 時間: 2025-3-25 03:07
,Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung,em Kompaktierer, die Folgen von Testantworten zu einem einzigen Datenwort verarbeiten. Diese Testhilfsmittel sollen sich mit geringem Hardware-Aufwand implementieren lassen, den Normalbetrieb nicht negativ beeinflussen und im Testbetrieb eine hohe Fehlererfassung erm?glichen.作者: Genistein 時間: 2025-3-25 04:24
Synthese selbsttestbarer Schaltungen, der Schaltung durch Erg?nzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit h?ngt n?mlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da 作者: 無目標 時間: 2025-3-25 08:25
,Schlu?,sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften [McBu88], wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollst?ndig defektfreien Fertigungsproze? mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen Qualit?t作者: JAUNT 時間: 2025-3-25 11:39
1615-4584 ei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltu作者: depreciate 時間: 2025-3-25 17:40 作者: 牽索 時間: 2025-3-25 23:27
Synthese selbsttestbarer Schaltungen,haften gew?hlt werden. Bei der High-Level-Synthese und bei der Logiksynthese kommt dann zu den Optimierungszielen Fl?che und Zeit die Testbarkeit hinzu. Au?erdem sind bei Fl?che und Zeit auch die Selbsttesteinrichtungen einzubeziehen.作者: cochlea 時間: 2025-3-26 01:47 作者: 非實體 時間: 2025-3-26 08:02 作者: Latency 時間: 2025-3-26 10:22 作者: 殘暴 時間: 2025-3-26 13:38
Defekte und Fehler,etzliste und im Verhalten der Schaltung werden als . bezeichnet. Jedem Fehler liegt mindestens ein Defekt zugrunde. Aber nicht jeder Defekt verursacht einen Fehler, denn Defekte in Bereichen, wo keine Layoutobjekte der Schaltung liegen, sind bedeutungslos.作者: 技術 時間: 2025-3-26 19:32 作者: 單挑 時間: 2025-3-27 00:02 作者: Cerumen 時間: 2025-3-27 01:41
https://doi.org/10.1007/978-3-658-36799-2sanforderungen zu erfüllen: Nach der Produktion werden alle fehlerhaften Chips anhand eines Tests ausgesondert. Die Qualit?tssicherung wird also teilweise in den Testbereich verlagert, und vom Test wird verlangt, da? er keine Fehlentscheidungen trifft.作者: 摻假 時間: 2025-3-27 05:52 作者: 共同給與 時間: 2025-3-27 09:58 作者: 信任 時間: 2025-3-27 14:05 作者: 連詞 時間: 2025-3-27 20:42 作者: Esophagitis 時間: 2025-3-28 00:06
Judgment Post-stratified Sampling with Multiple Ranking: A Comparison with Ranked Set Samplingrison sets. This rank information governs the decision on whether to include units in a final ranked set sample (RSS), but only supplements the primary selection of units in a judgment post-stratifed sample (JPS). If the position information in the comparison sets is accurate, for both designs, the 作者: 詞匯記憶方法 時間: 2025-3-28 05:29
VS Verlag für Sozialwissenschaften | Springer Fachmedien Wiesbaden 2012
