標題: Titlebook: Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits; Mitigating Soft Erro Rajesh Garg,Sunil P. Khatri Book 2010 Springer-Verlag US 2010 Crosstal [打印本頁] 作者: 吞食 時間: 2025-3-21 19:28
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書目名稱Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits讀者反饋
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作者: 悅耳 時間: 2025-3-21 21:24
978-1-4899-8510-1Springer-Verlag US 2010作者: circuit 時間: 2025-3-22 02:10
Rajesh Garg,Sunil P. KhatriDescribes the state of the art in the areas of radiation tolerance circuit design and process variation tolerant circuit design.Presents analytical approaches to test efficiently the severity of elect作者: 青石板 時間: 2025-3-22 04:50
http://image.papertrans.cn/a/image/156203.jpg作者: 阻止 時間: 2025-3-22 10:59
lytical approaches to test efficiently the severity of electThis monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The reliable operation of integrated circuits (ICs) has become increasingly dif?cult to achieve in the deep submicron (DSM) era作者: inundate 時間: 2025-3-22 15:00 作者: Radiation 時間: 2025-3-22 20:12
Book 2010 it is important to ef?ciently design robust VLSI circuits that are resilient to radiation particle strikes and process variations. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process 作者: LAY 時間: 2025-3-22 21:38 作者: Ptsd429 時間: 2025-3-23 04:41
Analytical Determination of the Radiation-induced Pulse Shape作者: –DOX 時間: 2025-3-23 06:10 作者: HIKE 時間: 2025-3-23 11:55 作者: Esalate 時間: 2025-3-23 14:50
Clamping Diode-based Radiation Tolerant Circuit Design Approach作者: lymphoma 時間: 2025-3-23 19:48 作者: SPALL 時間: 2025-3-24 00:13 作者: MUMP 時間: 2025-3-24 05:39 作者: FATAL 時間: 2025-3-24 08:42 作者: 長矛 時間: 2025-3-24 11:47
第190374主題貼--第2樓 (沙發(fā))作者: kidney 時間: 2025-3-24 17:09
第9561主題貼--第2樓 (沙發(fā))作者: FLING 時間: 2025-3-24 19:54
第190373主題貼--第2樓 (沙發(fā))作者: 荒唐 時間: 2025-3-25 02:15
第9560主題貼--第2樓 (沙發(fā))作者: sed-rate 時間: 2025-3-25 05:41
第9559主題貼--第2樓 (沙發(fā))作者: 條街道往前推 時間: 2025-3-25 08:36
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第4樓作者: 好色 時間: 2025-3-25 21:16
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